コアテクノロジー 『切る』

切断

画像1

基板表面品質を損なわずに、高い精度(寸法、直角度、真直度)で切断します。

面取り

基板の端面を加工し、破損や異物発生を低減します。
“鏡面加工”を施すことで、より高い効果が得られます。

面取りR面取り

R面取り加工

面取りR面取り

通常面取り端面

面取りR面取り

鏡面面取り端面

コーナーカット

基板の角を取り、接触した際のガラスの破損や、被接触物のダメージを防止します。
オリエンテーションフラット加工により、表裏および品種判別を可能にします。

コーナーC

Cコーナー

コーナーC

Rコーナー

コーナーC

異形コーナー

【技術例①】高い切断精度

単位:mm

基板厚み 0.2~0.4t 0.5~1.1t 1.2~5.0t
投入素材サイズ Max.1200×900 Max. 2200×2500 Max.1200×900
製品寸法 □100~□600 □100~1100×1300 □100~□600

※その他の寸法については御相談下さい。

高い寸法精度

基板サイズ 黒:730×920
青:1100×1300

※ 上記は仕様の一例です。
材質、製品グレード等によって異なります。

【技術例②】パターンにダメージを与えずにアライメント切断

CF(カラーフィルター)/TFT素子 付ガラス カット

・CF膜面およびTFT素子へダメージを与えずに、アライメントマーカーを使用して高い精度で切断/面取り加工を行う。

・フロー :一次切断(粗切り) ⇒ アライメント二次切断 ⇒ NC面取り ⇒ US洗浄 ⇒ 外観検査

投入サイズ
(mm)
製品サイズ
(mm)
面取り
コーナーカット
位置精度処理能力
MAX G8
2200×2500
200×200~730×920 R面仕上げ 基準±0.2mm
板厚
0.5~0.7
板厚
0.5~0.7
Cカット 1300枚/日

製品寸法、洗浄処理などご要望に応じて最適条件を検討致します。

【技術例③】 液晶ガラス端面部の鏡面面取り効果

端面パーティクル数

64

端面をパーティクルカウンターでなぞり計測

検出サイズ=0.3μm以上 n=5平均値

使用面へのパーティクル付着

64

ケース出し入れ10回試験

FPD用異物検査装置(HS-730)で計測

検出サイズ=1.0μm以上 n=5平均値

鏡面加工を施すことで、パーティクルの発生量が減少します。

次工程への異物持込や、工程内での異物発生を抑えます。

コアテクノロジー 『磨く』

研磨加工

無題7

研磨種類

無題1

【技術例①】TFT液晶ディスプレイ用ガラス基板 表面研磨

【技術例①】TFT液晶ディスプレイ用ガラス基板 表面研磨

【技術例②】 スリミングによる欠陥を研磨処理で抑制・修正

【技術例②】 スリミングによる欠陥を研磨処理で抑制・修正

マザーガラス研磨&ITO膜研磨 for OLED

マザーガラス研磨&ITO膜研磨for OLED

膜剥離・不良基板の再生

膜剥離・不良基板の再生

強化ガラスの反り対策

強化ガラスの反り対策

基板表面粗さのコントロール

基板表面粗さのコントロール

・研磨条件を変えることで基板の表面粗さを変える事が出来ます。

・低Ra化のみならず、Raを高くしたいというご要望にもお応えします。

研磨加工技術の特徴

ナノレベルの『超精密表面加工技術』、倉元ならびに倉元グループで開発・設計・製作した『オリジナル製造装置』、そして、『人間力を生かした製造技術』の融合こそがKURAMOTOのコアコンピタンスです。

FPD1

コアテクノロジー 『成膜』

コアテクノロジー『成膜』2

ナノレベルの超薄膜により
基板に新しい機能を与えます

コアテクノロジー 『成膜』図

倉元製品

【技術例①】ITO 透明導電膜

技術例①グラフ

【技術例②】OLED用 表面平滑ITO

成膜と研磨の技術融合から生まれた、平滑性に優れたITO膜です。

表面粗さと比抵抗

ITO膜 IZO膜 平滑ITO膜
Ra[nm] 1.5~2.0 0.5~0.7 0.2~0.6
P-V[nm] 18.0~25.0 6.0~10.0 4.0~9.0
比抵抗[μΩ・cm] 120 300 120

※保証値ではありません。

膜

SEM写真

【技術例③】超低反射メタル膜

超低反射メタル膜は、遮光性が高く反射率を抑えた膜です。

光学特性

光学濃度( OD値) 3.8 以上
視感反射率(Y値) 1.0 以下
光学特性

反射スペクトル